X'Pert PRO MRD и X'Pert PRO MRD (XL)

X'Pert PRO MRD и X'Pert PRO MRD (XL)

Новото поколение гъвкави материали изследователски дифракционни системи.
Дългата и успешна история на дифрактометрите PANalytical (MRD) продължава с ново поколение - X'Pert³ MRD и X'Pert³ MRD XL .
Към подобрената производителност и надеждност на новата платформа, са добавени по-аналитичен капацитет
и мощност запроучване на рентгеново разсейване в : 

• съвременни материали
• научната и индустриална тънкослойни технологии
• метрологично характеризиране в развитието на полупроводникови процеси

И двете системи се справят в една и съща широка гама от приложения с капацитет за картографиране върху полупроводникови
пластини до 100 mm (X'Pert³ MRD) и 200 mm (X'Pert³ MRD XL)

още..